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半導体素子・ICの測定法
川口清一, 石野寛著. -- 日刊工業新聞社, 1970. -- (Semi Conductor Series ; 7). <BB00197937>
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半導体素子・ICの測定法
川口清一, 石野寛著. -- 日刊工業新聞社, 1970. -- (Semi Conductor Series ; 7). <BB00197937>
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本館
日野館
10件
20件
50件
100件
No.
巻号
所蔵館
配置場所
資料ID
請求記号
状態
返却予定日
予約
WEB書棚
0001
本館
本館:B2北_和図書
011765743
/549.08/Se53/7
0件
0002
日野館
日野:一般書架
101284289
/549.8/KA92
0件
No.
0001
巻号
所蔵館
本館
配置場所
本館:B2北_和図書
資料ID
011765743
請求記号
/549.08/Se53/7
状態
返却予定日
予約
0件
WEB書棚
No.
0002
巻号
所蔵館
日野館
配置場所
日野:一般書架
資料ID
101284289
請求記号
/549.8/KA92
状態
返却予定日
予約
0件
WEB書棚
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書誌詳細
標題および責任表示
半導体素子・ICの測定法 / 川口清一, 石野寛著
ハンドウタイ ソシ IC ノ ソクテイホウ
出版・頒布事項
東京 : 日刊工業新聞社 , 1970.12
形態事項
2, 7, 162, 4p ; 22cm
書誌構造リンク
Semi Conductor Series||Semi Conductor Series <BB00907733> 7//b
学情ID
BN04816988
本文言語コード
日本語
著者標目リンク
川口, 清一||カワグチ, セイイチ <AU00593017>
著者標目リンク
石野, 寛||イシノ, ヒロシ <AU00593018>
分類標目
NDC6:549
分類標目
科学技術 NDLC:ND371
件名標目等
トランジスタ||トランジスタ
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