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半導体素子・ICの測定法

川口清一, 石野寛著. -- 日刊工業新聞社, 1970. -- (Semi Conductor Series ; 7). <BB00197937>
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所蔵一覧 1件~2件(全2件)

No. 巻号 所蔵館 配置場所 資料ID 請求記号 状態 返却予定日 予約 WEB書棚
0001 本館 本館:B2北_和図書 011765743 /549.08/Se53/7 0件
0002 日野館 日野:一般書架 101284289 /549.8/KA92 0件
No. 0001
巻号
所蔵館 本館
配置場所 本館:B2北_和図書
資料ID 011765743
請求記号 /549.08/Se53/7
状態
返却予定日
予約 0件
WEB書棚
No. 0002
巻号
所蔵館 日野館
配置場所 日野:一般書架
資料ID 101284289
請求記号 /549.8/KA92
状態
返却予定日
予約 0件
WEB書棚

書誌詳細

標題および責任表示 半導体素子・ICの測定法 / 川口清一, 石野寛著
ハンドウタイ ソシ IC ノ ソクテイホウ
出版・頒布事項 東京 : 日刊工業新聞社 , 1970.12
形態事項 2, 7, 162, 4p ; 22cm
書誌構造リンク Semi Conductor Series||Semi Conductor Series <BB00907733> 7//b
学情ID BN04816988
本文言語コード 日本語
著者標目リンク 川口, 清一||カワグチ, セイイチ <AU00593017>
著者標目リンク 石野, 寛||イシノ, ヒロシ <AU00593018>
分類標目 NDC6:549
分類標目 科学技術 NDLC:ND371
件名標目等 トランジスタ||トランジスタ