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最新固体表面/微小領域の解析・評価技術

氏平祐輔編. -- リアライズ社, 1991. <BB02118881>
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最新固体表面/微小領域の解析・評価技術

氏平祐輔編. -- リアライズ社, 1991. <BB02118881>
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No. 巻号 所蔵館 配置場所 資料ID 請求記号 状態 返却予定日 予約 WEB書棚
0001 本館 本館：３Ｆ一般書架 012650059 /501/U57S 0件
No. 0001
巻号
所蔵館 本館
配置場所 本館：３Ｆ一般書架
資料ID 012650059
請求記号 /501/U57S
状態
返却予定日
予約 0件
WEB書棚
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書誌詳細

標題および責任表示 最新固体表面/微小領域の解析・評価技術 / 氏平祐輔編
サイシン コタイ ヒョウメン ビショウ リョウイキ ノ カイセキ ヒョウカ ギジュツ
出版・頒布事項 東京 : リアライズ社 , 1991.3
形態事項 410p ; 27cm
巻号情報
ISBN 4947655429
学情ID BN06637673
本文言語コード 日本語
著者標目リンク 氏平, 祐輔(1936-)||ウジヒラ, ユウスケ <AU00543289> 編
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