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半導体物性測定法

今村舜仁, 伝田精一, 山香英三共著. -- 日刊工業新聞社, 1965. <BB00892581>
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所蔵一覧 1件~3件(全3件)

No. 巻号 所蔵館 配置場所 資料ID 請求記号 状態 返却予定日 予約 WEB書棚
0001 本館 本館:B2北_和図書 010187873 /549.8/I44 0件
0002 日野館 日野:一般書架 101979391 /549.8/I 0件
0003 日野館 日野:閉架書庫(一般) 101284180 /549.8/I 0件
No. 0001
巻号
所蔵館 本館
配置場所 本館:B2北_和図書
資料ID 010187873
請求記号 /549.8/I44
状態
返却予定日
予約 0件
WEB書棚
No. 0002
巻号
所蔵館 日野館
配置場所 日野:一般書架
資料ID 101979391
請求記号 /549.8/I
状態
返却予定日
予約 0件
WEB書棚
No. 0003
巻号
所蔵館 日野館
配置場所 日野:閉架書庫(一般)
資料ID 101284180
請求記号 /549.8/I
状態
返却予定日
予約 0件
WEB書棚

書誌詳細

標題および責任表示 半導体物性測定法 / 今村舜仁, 伝田精一, 山香英三共著
ハンドウタイ ブッセイ ソクテイホウ
出版・頒布事項 東京 : 日刊工業新聞社 , 1965.6
形態事項 332,4p ; 21cm
学情ID BN03206438
本文言語コード 日本語
著者標目リンク 今村, 舜仁||イマムラ, シュンジ <AU00687880>
著者標目リンク 伝田, 精一(1931-)||デンダ, セイイチ <AU00454353>
著者標目リンク 山香, 英三||ヤマカ, エイゾウ <AU00592005>
件名標目等 半導体||ハンドウタイ