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電子線マイクロアナリシス : 走査電子顕微鏡,X線マイクロアナライザ分析法

副島啓義著. -- 日刊工業新聞社, 1987. <BB00793474>
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電子線マイクロアナリシス : 走査電子顕微鏡,X線マイクロアナライザ分析法

副島啓義著. -- 日刊工業新聞社, 1987. <BB00793474>
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所蔵一覧 1件～2件（全2件）

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No. 巻号 所蔵館 配置場所 資料ID 請求記号 状態 返却予定日 予約 WEB書棚
0001 日野館 日野：参考図書 101022390 R/433.2/SO22 禁帯出 0件
0002 荒川館 荒川：閉架書庫2 018700452 /549/So22/1987 0件
No. 0001
巻号
所蔵館 日野館
配置場所 日野：参考図書
資料ID 101022390
請求記号 R/433.2/SO22
状態 禁帯出
返却予定日
予約 0件
WEB書棚
No. 0002
巻号
所蔵館 荒川館
配置場所 荒川：閉架書庫2
資料ID 018700452
請求記号 /549/So22/1987
状態
返却予定日
予約 0件
WEB書棚
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書誌詳細

標題および責任表示 電子線マイクロアナリシス : 走査電子顕微鏡,X線マイクロアナライザ分析法 / 副島啓義著
デンシセン マイクロ アナリシス : ソウサ デンシ ケンビキョウ Xセン マイクロ アナライザ ブンセキホウ
出版・頒布事項 東京 : 日刊工業新聞社 , 1987.2
形態事項 x,597,5p ; 27cm
巻号情報
ISBN 4526021008
注記 引用・参考文献:p.592-597
学情ID BN00749109
本文言語コード 日本語
著者標目リンク 副島, 啓義(1939-)||ソエジマ, ヒロヨシ <AU00628452>
分類標目 分析化学 NDC8:433.5
分類標目 科学技術 NDLC:PA124
件名標目等 光学分析||コウガクブンセキ
件名標目等 エックス線分光分析||エックスセンブンコウブンセキ
件名標目等 エックス線分光分析||エックスセンブンコウブンセキ
件名標目等 微量分析||ビリョウブンセキ
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