東京都立大学図書館
図書館HP | ログイン
  • 目録検索 目録検索 ▼
  • 利用者サービス マイライブラリ ▼
    • 利用状況の確認
    • ブックマーク
    • お気に入り検索
    • タグ履歴
    • 複写依頼
    • 貸借依頼
    • 新規購入依頼

東京都立大学図書館

前の画面へ戻る

二次イオン質量分析法

日本表面真空学会編. -- 第2版. -- 丸善出版, 2025. -- (表面分析技術選書). <BB02448941>
登録タグ：
登録されているタグはありません
便利機能：
詳細情報を見る
書誌URL：

二次イオン質量分析法

日本表面真空学会編. -- 第2版. -- 丸善出版, 2025. -- (表面分析技術選書). <BB02448941>
登録タグ：
登録されているタグはありません
便利機能：
詳細情報を見る
書誌URL：

所蔵一覧 1件～1件（全1件）

ナンバーをクリックすると所蔵詳細をみることができます。

No. 巻号 所蔵館 配置場所 資料ID 請求記号 状態 返却予定日 予約 WEB書棚
0001 日野館 日野：一般図書 20002104107 /428.4/N 0件
No. 0001
巻号
所蔵館 日野館
配置場所 日野：一般図書
資料ID 20002104107
請求記号 /428.4/N
状態
返却予定日
予約 0件
WEB書棚
このページのTOPへ

書誌詳細

標題および責任表示 二次イオン質量分析法 / 日本表面真空学会編
ニジ イオン シツリョウ ブンセキホウ
版事項 第2版
出版・頒布事項 東京 : 丸善出版 , 2025.5
形態事項 ix, 226p : 挿図 ; 21cm
巻号情報
ISBN 9784621311356
書誌構造リンク 表面分析技術選書||ヒョウメン ブンセキ ギジュツ センショ <BB00563114>//a
その他の標題 その他のタイトル:Secondary ion mass spectrometry
その他の標題 その他のタイトル:SIMS
その他の標題 異なりアクセスタイトル:二次イオン質量分析法
2ジ イオン シツリョウ ブンセキホウ
注記 表現種別: テキスト (ncrcontent), 機器種別: 機器不用 (ncrmedia), キャリア種別: 冊子 (ncrcarrier)
注記 初版: 丸善 1999年刊
注記 その他のタイトルはブックジャケットによる
注記 引用・参考文献: 各章末
学情ID BD12063477
本文言語コード 日本語
著者標目リンク 日本表面科学会||ニホン ヒョウメン カガクカイ <AU00100269> 編者
分類標目 物性物理学 NDC9:428.4
分類標目 物性物理学 NDC10:428.4
分類標目 科学技術 NDLC:MC141
件名標目等 表面(工学)||ヒョウメン(コウガク)
件名標目等 イオンビーム||イオンビーム
件名標目等 質量分析||シツリョウブンセキ
件名標目等 表面 (工学)||ヒョウメン (コウガク)
件名標目等 質量分析||シツリョウブンセキ
件名標目等 イオンビーム||イオンビーム
このページのTOPへ
前の画面へ戻る
このページのTOPへ

  • 関連情報

    関連資料

    他の検索サイトで探す

    他大学資料確認

    資料を取り寄せる

    • ILL複写依頼(コピー取り寄せ)
    • ILL貸借依頼(現物借用)

    この書誌のQRコード