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最新フォトレジスト材料開発とプロセス最適化技術
河合晃監修. -- 普及版. -- シーエムシー出版, 2024. -- (CMCテクニカルライブラリー ; 840 . エレクトロニクスシリーズ). <BB02435397>
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最新フォトレジスト材料開発とプロセス最適化技術
河合晃監修. -- 普及版. -- シーエムシー出版, 2024. -- (CMCテクニカルライブラリー ; 840 . エレクトロニクスシリーズ). <BB02435397>
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No.
巻号
所蔵館
配置場所
資料ID
請求記号
状態
返却予定日
予約
WEB書棚
0001
日野館
日野:一般書架
20002081602
/549.7/Ka
0件
No.
0001
巻号
所蔵館
日野館
配置場所
日野:一般書架
資料ID
20002081602
請求記号
/549.7/Ka
状態
返却予定日
予約
0件
WEB書棚
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書誌詳細
標題および責任表示
最新フォトレジスト材料開発とプロセス最適化技術 / 河合晃監修
サイシン フォトレジスト ザイリョウ カイハツ ト プロセス サイテキカ ギジュツ
版事項
普及版
出版・頒布事項
東京 : シーエムシー出版 , 2024.8
形態事項
viii, 320p : 挿図 ; 26cm
巻号情報
ISBN
9784781317748
書誌構造リンク
CMCテクニカルライブラリー||CMC テクニカル ライブラリー <BB00773226> 840 . エレクトロニクスシリーズ||エレクトロニクス シリーズ//a
その他の標題
標題紙タイトル:Advanced technologies for functional resist materials and process optimization
注記
2017年刊の普及版
注記
文献: 章末
注記
背に「TL840」とあり
注記
奥付・背・裏表紙に「B1438」とあり
学情ID
BD08208554
本文言語コード
日本語
著者標目リンク
河合, 晃||カワイ, アキラ <AU00767525>
分類標目
電子工学 NDC9:549.7
分類標目
電子工学 NDC10:549.7
分類標目
科学技術 NDLC:PA441
分類標目
高分子化学工業 NDC10:578.4
件名標目等
リソグラフィー||リソグラフィー
件名標目等
感光性樹脂||カンコウセイ ジュシ
件名標目等
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件名標目等
リソグラフィー||リソグラフィー
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