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Unequal by design : high-stakes testing and the standardization of inequality

Wayne Au ; : pbk. -- 2nd ed. -- Routledge, 2023. -- (Critical social thought / series editor, Michael W. Apple). <BB02418612>
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Wayne Au ; : pbk. -- 2nd ed. -- Routledge, 2023. -- (Critical social thought / series editor, Michael W. Apple). <BB02418612>
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No. 巻号 所蔵館 配置場所 資料ID 請求記号 状態 返却予定日 予約 WEB書棚
0001 : pbk 人文社会 人社：教育 10006034666 /371.7/A96u 学部管理 0件
No. 0001
巻号 : pbk
所蔵館 人文社会
配置場所 人社：教育
資料ID 10006034666
請求記号 /371.7/A96u
状態 学部管理
返却予定日
予約 0件
WEB書棚
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書誌詳細

標題および責任表示 Unequal by design : high-stakes testing and the standardization of inequality / Wayne Au
版事項 2nd ed
出版・頒布事項 New York : Routledge , 2023
形態事項 xiv, 145 p. ; 23 cm
巻号情報
巻次等 : pbk
ISBN 9780367437039
書誌構造リンク Critical social thought / series editor, Michael W. Apple <BB00248113>//a
注記 "First edition published by Routledge 2009"--T.p. verso
注記 Includes bibliographical references and index
学情ID BD01489397
本文言語コード 英語
著者標目リンク Au, Wayne, 1972- <AU00789283>
分類標目 DC23:371.26013
件名標目等 Educational tests and measurements -- Social aspects -- United States
件名標目等 Test bias -- United States
件名標目等 Educational equalization -- United States
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