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Scanning electron microscopy and X-ray microanalysis

Joseph I. Goldstein ... [et al.] ; : [hbk]. -- 4th ed. -- Springer Science+Business Media, 2018. <BB02407442>
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Joseph I. Goldstein ... [et al.] ; : [hbk]. -- 4th ed. -- Springer Science+Business Media, 2018. <BB02407442>
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No. 巻号 所蔵館 配置場所 資料ID 請求記号 状態 返却予定日 予約 WEB書棚
0001 : [hbk] 日野館 日野：大型本 20002049360 L/549.97/G 0件
No. 0001
巻号 : [hbk]
所蔵館 日野館
配置場所 日野：大型本
資料ID 20002049360
請求記号 L/549.97/G
状態
返却予定日
予約 0件
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書誌詳細

標題および責任表示 Scanning electron microscopy and X-ray microanalysis / Joseph I. Goldstein ... [et al.]
版事項 4th ed
出版・頒布事項 New York : Springer Science+Business Media , 2018
形態事項 xxiii, 550 p. : ill. (chiefly col.) ; 29 cm
巻号情報
巻次等 : [hbk]
ISBN 9781493966745
注記 Includes bibliographical references and index
注記 Other authors: Dale E. Newbury, Joseph R. Michael, Nicholas W.M. Ritchie, John Henry J. Scott, David C. Joy
注記 "Extras online"-- Cover
学情ID BB25623321
本文言語コード 英語
著者標目リンク *Goldstein, Joseph, 1939- <AU00815849>
著者標目リンク Newbury, Dale E. <AU00815850>
著者標目リンク Michael, Joseph R. <>
著者標目リンク Ritchie, Nicholas W.M. <>
著者標目リンク Scott, John Henry J. <>
著者標目リンク Joy, David C., 1943- <AU00815851>
分類標目 DC23:502.825
分類標目 電子工学 NDC9:549.97
件名標目等 Electron microscopy
件名標目等 Scanning electron microscopy
件名標目等 X-ray microanalysis
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