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Test and diagnosis of analogue, mixed-signal and RF integrated circuits : the system on chip approach

edited by Yichuang Sun ; : pbk. -- The Institution of Engineering and Technology, 2008. -- (IET circuits, devices and systems series ; 19). <BB02375848>
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Test and diagnosis of analogue, mixed-signal and RF integrated circuits : the system on chip approach

edited by Yichuang Sun ; : pbk. -- The Institution of Engineering and Technology, 2008. -- (IET circuits, devices and systems series ; 19). <BB02375848>
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No. 巻号 所蔵館 配置場所 資料ID 請求記号 状態 返却予定日 予約 WEB書棚
0001 : pbk 日野館 日野：一般書架(洋書) 20001587717 /549.7/Su 0件
No. 0001
巻号 : pbk
所蔵館 日野館
配置場所 日野：一般書架(洋書)
資料ID 20001587717
請求記号 /549.7/Su
状態
返却予定日
予約 0件
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書誌詳細

標題および責任表示 Test and diagnosis of analogue, mixed-signal and RF integrated circuits : the system on chip approach / edited by Yichuang Sun
出版・頒布事項 London : The Institution of Engineering and Technology , 2008
形態事項 xx, 389 p. : ill. ; 24 cm
巻号情報
巻次等 : pbk
ISBN 9780863417450
書誌構造リンク IET circuits, devices and systems series <BB02014906> 19//a
内容著作注記 Fault diagnosis of linear and non-linear analogue circuits / Yichuang Sun
内容著作注記 Symbolic function approaches for analogue fault diagnosis / Stefano Manetti and Maria Cristina Piccirilli
内容著作注記 Neural-network-based approaches for analogue circuit fault diagnosis / Yichuang Sun and Yigang He
内容著作注記 Hierarchical/decomposition techniques for large-scale analogue diagnosis / Peter Shepherd
内容著作注記 DFT and BIST techniques for analogue and mixed-signal test / Mona Safi-Harb and Gordon Roberts
内容著作注記 Design-for-testability of analogue filters / Yichuang Sun and Masood-ul Hasan
内容著作注記 Test of A/D converters: from converter characteristics to built-in self-test proposals / Andreas Lechner and Andrew Richardson
内容著作注記 Test of [Sigma Delta] converters / Gildas Leger and Adoracion Rueda
内容著作注記 Phase-locked loop test methodologies: current characterization and production test practices / Martin John Burbidge and Andrew Richardson
内容著作注記 On-chip testing techniques for RF wirless transceiver systems and components / Alberto Valdes-Garcia, Jose Silva-Martinez, Edgar Sanchez-Sinencio
内容著作注記 Tuning and calibration of analogue, mixed-signal and RF circuits / James Moritz and Yichuang Sun
注記 Includes bibliographical references and index
注記 No further information has been provided for this title
学情ID BB24024933
本文言語コード 英語
著者標目リンク *Sun, Yichuang <>
分類標目 LCC:TK7874.654
分類標目 DC22:621.38150287
件名標目等 Linear integrated circuits -- Testing
件名標目等 Mixed signal circuits -- Testing
件名標目等 Radio frequency integrated circuits -- Testing
件名標目等 Linear integrated circuits / Testing
件名標目等 Mixed signal circuits / Testing
件名標目等 Radio frequency integrated circuits / Testing
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