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半導体部品の信頼性 : 高信頼化の歴史とフィールドデータ

荒井英輔, 塩野登編著 ; 岩根眼藏 [ほか] 著. -- 丸善プラネット, 2013. <BB02197024>
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No. 巻号 所蔵館 配置場所 資料ID 請求記号 状態 返却予定日 予約 WEB書棚
0001 日野館 日野:大型本 20001821560 L/549.8/A 0件
No. 0001
巻号
所蔵館 日野館
配置場所 日野:大型本
資料ID 20001821560
請求記号 L/549.8/A
状態
返却予定日
予約 0件
WEB書棚

書誌詳細

標題および責任表示 半導体部品の信頼性 : 高信頼化の歴史とフィールドデータ / 荒井英輔, 塩野登編著 ; 岩根眼藏 [ほか] 著
ハンドウタイ ブヒン ノ シンライセイ : コウシンライカ ノ レキシ ト フィールド データ
出版・頒布事項 東京 : 丸善プラネット , 2013.8
形態事項 viii, 344p : 挿図 ; 30 cm
巻号情報
ISBN 9784863451728
注記 その他の著者: 中野好典, 植木武美, 平岡一則, 小川清, 福田光男, 久慈憲夫, 水沢武, 嶋屋正一, 山口力
学情ID BB13216182
本文言語コード 日本語
著者標目リンク 荒井, 英輔||アライ, エイスケ <AU00378034>
著者標目リンク 塩野, 登(1947-)||シオノ, ノボル <AU00751203>
著者標目リンク 岩根, 眼藏
イワネ, ガンゾウ <>