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X線反射率法入門

桜井健次編. -- 講談社, 2009. <BB00327992>
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X線反射率法入門

桜井健次編. -- 講談社, 2009. <BB00327992>
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所蔵一覧 1件～2件（全2件）

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No. 巻号 所蔵館 配置場所 資料ID 請求記号 状態 返却予定日 予約 WEB書棚
0001 その他 理：物理 10004740819 /427.5/Sa47x 学部管理 0件
0002 本館 本館：３Ｆ一般書架 10001407248 /427.5/Sa47x/2009 0件
No. 0001
巻号
所蔵館 その他
配置場所 理：物理
資料ID 10004740819
請求記号 /427.5/Sa47x
状態 学部管理
返却予定日
予約 0件
WEB書棚
No. 0002
巻号
所蔵館 本館
配置場所 本館：３Ｆ一般書架
資料ID 10001407248
請求記号 /427.5/Sa47x/2009
状態
返却予定日
予約 0件
WEB書棚
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書誌詳細

標題および責任表示 X線反射率法入門 / 桜井健次編
Xセン ハンシャリツホウ ニュウモン
出版・頒布事項 東京 : 講談社 , 2009.2
形態事項 xii, 306p : 挿図 ; 21cm
巻号情報
ISBN 9784061532687
その他の標題 標題紙タイトル:Introduction to X-ray reflectivity
その他の標題 異なりアクセスタイトル:X線反射率法入門
エックスセン ハンシャリツホウ ニュウモン
注記 編集: 講談社サイエンティフィク
注記 参考文献: 各章末
学情ID BA89058343
本文言語コード 日本語
著者標目リンク 桜井, 健次||サクライ, ケンジ <AU00620596>
著者標目リンク 講談社サイエンティフィク||コウダンシャ サイエンティフィク <AU00067043>
分類標目 電子工学 NDC8:549.8
分類標目 電子工学 NDC9:549.8
分類標目 電磁気学 NDC9:427.55
件名標目等 薄膜||ハクマク
件名標目等 エックス線||エックスセン
件名標目等 非破壊検査||ヒハカイケンサ
件名標目等 エックス線回折||エックスセンカイセツ
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