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LSI故障解析技術のすべて : 開発促進・歩留向上・信頼性向上のキーテクノロジー
二川清著. -- 工業調査会, 2007. <BB00195173>
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二川清著. -- 工業調査会, 2007. <BB00195173>
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No.
巻号
所蔵館
配置場所
資料ID
請求記号
状態
返却予定日
予約
WEB書棚
0001
日野館
日野:一般書架
20001474700
/549.7/N
0件
No.
0001
巻号
所蔵館
日野館
配置場所
日野:一般書架
資料ID
20001474700
請求記号
/549.7/N
状態
返却予定日
予約
0件
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書誌詳細
標題および責任表示
LSI故障解析技術のすべて : 開発促進・歩留向上・信頼性向上のキーテクノロジー / 二川清著
LSI コショウ カイセキ ギジュツ ノ スベテ : カイハツ ソクシン ブドマリ コウジョウ シンライセイ コウジョウ ノ キー テクノロジー
出版・頒布事項
東京 : 工業調査会 , 2007.11
形態事項
221p, 図版 [7] p : 挿図 ; 22cm
巻号情報
ISBN
9784769312697
その他の標題
標題紙タイトル:LSI failure analysis
その他の標題
異なりアクセスタイトル:LSI故障解析技術のすべて : 開発促進歩留向上信頼性向上のキーテクノロジー
エルエスアイ コショウ カイセキ ギジュツ ノ スベテ : カイハツ ソクシン ブドマリ コウジョウ シンライセイ コウジョウ ノ キー テクノロジー
注記
参考文献: p[205]-214
学情ID
BA84153482
本文言語コード
日本語
著者標目リンク
二川, 清(1949-)||ニカワ, キヨシ <AU00374237>
分類標目
電子工学 NDC8:549.7
分類標目
電子工学 NDC9:549.7
件名標目等
集積回路||シュウセキカイロ
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