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表面分析:SIMS : 二次イオン質量分析法の基礎と応用

D.ブリッグス, M.P.シーア編 ; 志水隆一, 二瓶好正監訳 ; 新SIMS研究会訳. -- アグネ承風社, 2003. <BB00957862>
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表面分析:SIMS : 二次イオン質量分析法の基礎と応用

D.ブリッグス, M.P.シーア編 ; 志水隆一, 二瓶好正監訳 ; 新SIMS研究会訳. -- アグネ承風社, 2003. <BB00957862>
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No. 巻号 所蔵館 配置場所 資料ID 請求記号 状態 返却予定日 予約 WEB書棚
0001 本館 本館：３Ｆ一般書架 008636153 /428.4/B73h/2003 0件
0002 日野館 日野：一般書架 102013323 /428.4/B 0件
No. 0001
巻号
所蔵館 本館
配置場所 本館：３Ｆ一般書架
資料ID 008636153
請求記号 /428.4/B73h/2003
状態
返却予定日
予約 0件
WEB書棚
No. 0002
巻号
所蔵館 日野館
配置場所 日野：一般書架
資料ID 102013323
請求記号 /428.4/B
状態
返却予定日
予約 0件
WEB書棚
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書誌詳細

標題および責任表示 表面分析:SIMS : 二次イオン質量分析法の基礎と応用 / D.ブリッグス, M.P.シーア編 ; 志水隆一, 二瓶好正監訳 ; 新SIMS研究会訳
ヒョウメン ブンセキ SIMS : ニジ イオン シツリョウ ブンセキホウ ノ キソ ト オウヨウ
出版・頒布事項 東京 : アグネ承風社 , 2003.7
形態事項 xix, 429p : 挿図 ; 21cm
巻号情報
ISBN 4900508101
その他の標題 原タイトル:Practical surface analysis. Volume2: Ion and neutral spectroscopy
注記 引用文献: 各章末
注記 Practical surface analysis.Volume2:Ion and neutral spectroscopy 原著第2版の抄訳
学情ID BA62889819
本文言語コード 日本語
著者標目リンク Briggs, D. <AU00299606>
著者標目リンク Seah, M. P. <AU00299607>
著者標目リンク 志水, 隆一||シミズ, リュウイチ <AU00117667>
著者標目リンク 二瓶, 好正(1940-)||ニヘイ, ヨシマサ <AU00301171>
著者標目リンク 新SIMS研究会||シン シムス ケンキュウカイ <AU00396199>
分類標目 物性物理学 NDC9:428.4
分類標目 物性物理学 NDC8:428.4
件名標目等 表面(工学上)||ヒョウメン(コウガクジョウ)
件名標目等 イオンビーム||イオンビーム
件名標目等 質量分析||シツリョウブンセキ
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