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Essentials of electronic testing for digital, memory, and mixed-signal VLSI circuits

Michael L. Bushnell, Vishwani D. Agrawal. -- Kluwer Academic, 2000. -- (Frontiers in electronic testing). <BB02160755>
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No. 巻号 所蔵館 配置場所 資料ID 請求記号 状態 返却予定日 予約 WEB書棚
0001 日野館 日野：一般書架(洋書) 20001692921 /549.7/B 0件
No. 0001
巻号
所蔵館 日野館
配置場所 日野：一般書架(洋書)
資料ID 20001692921
請求記号 /549.7/B
状態
返却予定日
予約 0件
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書誌詳細

標題および責任表示 Essentials of electronic testing for digital, memory, and mixed-signal VLSI circuits / Michael L. Bushnell, Vishwani D. Agrawal
出版・頒布事項 Boston, MA : Kluwer Academic , c2000
形態事項 xviii, 690 p. : ill. ; 26 cm
巻号情報
ISBN 0792379918
書誌構造リンク Frontiers in electronic testing <BB00775732>//a
注記 Includes bibliographical references and index
学情ID BA50218474
本文言語コード 英語
著者標目リンク *Bushnell, Michael L. (Michael Lee), 1950- <AU00736300>
著者標目リンク Agrawal, Vishwani D., 1943- <AU00736301>
分類標目 LCC:TK7874.75
分類標目 DC21:621.39/5
件名標目等 Integrated circuits -- Very large scale integration -- Testing
件名標目等 Digital integrated circuits -- Testing
件名標目等 Mixed signal circuits -- Testing
件名標目等 Semiconductor storage devices -- Testing
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