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VLSI testing : digital and mixed analogue/digital techniques

Stanley L. Hurst. -- Institution of Electrical Engineers, 1998. -- (IEE circuits, devices and systems series ; 9). <BB00775728>
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VLSI testing : digital and mixed analogue/digital techniques

Stanley L. Hurst. -- Institution of Electrical Engineers, 1998. -- (IEE circuits, devices and systems series ; 9). <BB00775728>
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No. 巻号 所蔵館 配置場所 資料ID 請求記号 状態 返却予定日 予約 WEB書棚
0001 本館 本館：B2南_洋図書 007098356 /549.8/H98v/1998 0件
No. 0001
巻号
所蔵館 本館
配置場所 本館：B2南_洋図書
資料ID 007098356
請求記号 /549.8/H98v/1998
状態
返却予定日
予約 0件
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書誌詳細

標題および責任表示 VLSI testing : digital and mixed analogue/digital techniques / Stanley L. Hurst
出版・頒布事項 London : Institution of Electrical Engineers , c1998
形態事項 xx, 532 p. : ill ; 24cm
巻号情報
ISBN 0852969015
書誌構造リンク IEE circuits, devices and systems series <BB00775727> 9//a
注記 Bibliography: p. 510-514
注記 Includes index
学情ID BA37184301
本文言語コード 英語
著者標目リンク *Hurst, S. L. <AU00408416>
著者標目リンク Institution of Electrical Engineers <AU00317229>
分類標目 DC21:621.3950287
件名標目等 Integrated circuits -- Very large scale integration -- Testing
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