東京都立大学図書館
図書館HP | ログイン
  • 目録検索 目録検索 ▼
  • 利用者サービス マイライブラリ ▼
    • 利用状況の確認
    • ブックマーク
    • お気に入り検索
    • タグ履歴
    • 複写依頼
    • 貸借依頼
    • 新規購入依頼

東京都立大学図書館

検索結果一覧へ戻る

Semiconductor material and device characterization

Dieter K. Schroder. -- 2nd ed. -- Wiley, 1998. -- (A Wiley-Interscience publication). <BB00953438>
登録タグ：
登録されているタグはありません
便利機能：
詳細情報を見る
書誌URL：

Semiconductor material and device characterization

Dieter K. Schroder. -- 2nd ed. -- Wiley, 1998. -- (A Wiley-Interscience publication). <BB00953438>
登録タグ：
登録されているタグはありません
便利機能：
詳細情報を見る
書誌URL：

所蔵一覧 1件～1件（全1件）

ナンバーをクリックすると所蔵詳細をみることができます。

No. 巻号 所蔵館 配置場所 資料ID 請求記号 状態 返却予定日 予約 WEB書棚
0001 日野館 日野：一般書架(洋書) 201172913 /549.8/SC 0件
No. 0001
巻号
所蔵館 日野館
配置場所 日野：一般書架(洋書)
資料ID 201172913
請求記号 /549.8/SC
状態
返却予定日
予約 0件
WEB書棚
このページのTOPへ

書誌詳細

標題および責任表示 Semiconductor material and device characterization / Dieter K. Schroder
版事項 2nd ed
出版・頒布事項 New York : Wiley , c1998
形態事項 xxiv, 760 p. : ill. ; 25 cm
巻号情報
ISBN 0471241393
書誌構造リンク A Wiley-Interscience publication <BB00131179>//a
注記 Includes bibliographical references and index
学情ID BA36515684
本文言語コード 英語
著者標目リンク *Schroder, Dieter K. <AU00524207>
分類標目 LCC:QC611
分類標目 DC21:621.3815/2
分類標目 科学技術 NDLC:MC151
件名標目等 Semiconductors
件名標目等 Semiconductors -- Testing
このページのTOPへ
検索結果一覧へ戻る
このページのTOPへ

  • 関連情報

    関連資料

    他の検索サイトで探す

    他大学資料確認

    資料を取り寄せる

    • ILL複写依頼(コピー取り寄せ)
    • ILL貸借依頼(現物借用)

    この書誌のQRコード