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Proceedings : International Test Conference 1994

: soft, : case. -- International Test Conference, 1994. <BB00694420>
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No. 巻号 所蔵館 配置場所 資料ID 請求記号 状態 返却予定日 予約 WEB書棚
0001 : case 本館 本館：B2南_洋図書 016255732 /549.8/I57p 0件
No. 0001
巻号 : case
所蔵館 本館
配置場所 本館：B2南_洋図書
資料ID 016255732
請求記号 /549.8/I57p
状態
返却予定日
予約 0件
WEB書棚
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書誌詳細

標題および責任表示 Proceedings : International Test Conference 1994
出版・頒布事項 Altoona, PA : International Test Conference , c1994
形態事項 xii, 1033 p. : ill., ports. ; 29 cm
巻号情報
巻次等 : soft
ISBN 0780321022
巻号情報
巻次等 : case
ISBN 0780321030
その他の標題 標題紙タイトル:ITC : International Test Conference 1994
その他の標題 背表紙タイトル:1994 IEEE International Test Conference
注記 "IEEE Catalog Number 94CH3483-5."--T.p. verso
注記 Includes bibliographies and index
学情ID BA24448706
本文言語コード 英語
著者標目リンク *International Test Conference <AU00353146> (25th : 1994)
件名標目等 Integrated circuits -- Testing -- Congresses
件名標目等 Automatic checkout equipment -- Congresses
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