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Scanning force microscopy : with applications to electric, magnetic, and atomic forces

Dror Sarid. -- Rev. ed. -- Oxford University Press, 1994. -- (Oxford series in optical and imaging sciences ; 5). <BB00373001>
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Scanning force microscopy : with applications to electric, magnetic, and atomic forces

Dror Sarid. -- Rev. ed. -- Oxford University Press, 1994. -- (Oxford series in optical and imaging sciences ; 5). <BB00373001>
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No. 巻号 所蔵館 配置場所 資料ID 請求記号 状態 返却予定日 予約 WEB書棚
0001 本館 本館：B2南_洋図書 013943314 /549.9/SA69S 0件
No. 0001
巻号
所蔵館 本館
配置場所 本館：B2南_洋図書
資料ID 013943314
請求記号 /549.9/SA69S
状態
返却予定日
予約 0件
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書誌詳細

標題および責任表示 Scanning force microscopy : with applications to electric, magnetic, and atomic forces / Dror Sarid
版事項 Rev. ed
出版・頒布事項 New York : Oxford University Press , 1994
形態事項 xiii, 263 p. : ill. ; 25 cm
巻号情報
ISBN 019509204X
書誌構造リンク Oxford series in optical and imaging sciences <BB00952480> 5//a
注記 Includes bibliographical references and index
学情ID BA23626966
本文言語コード 英語
著者標目リンク *Sarid, Dror <AU00711577>
分類標目 LCC:QH212.S32
分類標目 DC20:502/.8/2
件名標目等 Scanning force microscopy
件名標目等 Surfaces (Physics)
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