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Semiconductor measurements and instrumentation

W. R. Runyan. -- International student edition. -- McGraw-Hill, 1975. -- (Texas Instruments electronics series). <BB00936662>
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No. 巻号 所蔵館 配置場所 資料ID 請求記号 状態 返却予定日 予約 WEB書棚
0001 日野館 日野：一般書架(洋書) 201160900 /549.8/R 0件
0002 日野館 日野：閉架書庫（一般） 201070851 /549.8/R 0件
No. 0001
巻号
所蔵館 日野館
配置場所 日野：一般書架(洋書)
資料ID 201160900
請求記号 /549.8/R
状態
返却予定日
予約 0件
WEB書棚
No. 0002
巻号
所蔵館 日野館
配置場所 日野：閉架書庫（一般）
資料ID 201070851
請求記号 /549.8/R
状態
返却予定日
予約 0件
WEB書棚
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書誌詳細

標題および責任表示 Semiconductor measurements and instrumentation / W. R. Runyan
版事項 International student edition
出版・頒布事項 New York : McGraw-Hill , [1975]
形態事項 vii, 280 p. : ill. ; 26 cm
巻号情報
ISBN 0070542732
書誌構造リンク Texas Instruments electronics series <BB00557212>//a
注記 Includes bibliographical references and index
学情ID BA1952825X
本文言語コード 英語
著者標目リンク Runyan, W. R. <AU00736903>
分類標目 LCC:QC611.24
分類標目 DC:537.6/22
件名標目等 Semiconductors
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