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Unified methods for VLSI simulation and test generation

by Kwang-Ting Cheng and Vishwani D. Agrawal. -- Kluwer Academic Publishers, 1989. -- (The Kluwer international series in engineering and computer science ; SECS 73 . VLSI, computer architecture and digital signal processing). <BB00940783>
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Unified methods for VLSI simulation and test generation

by Kwang-Ting Cheng and Vishwani D. Agrawal. -- Kluwer Academic Publishers, 1989. -- (The Kluwer international series in engineering and computer science ; SECS 73 . VLSI, computer architecture and digital signal processing). <BB00940783>
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No. 巻号 所蔵館 配置場所 資料ID 請求記号 状態 返却予定日 予約 WEB書棚
0001 日野館 日野：一般書架(洋書) 201110558 /549.7/C 0件
No. 0001
巻号
所蔵館 日野館
配置場所 日野：一般書架(洋書)
資料ID 201110558
請求記号 /549.7/C
状態
返却予定日
予約 0件
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書誌詳細

標題および責任表示 Unified methods for VLSI simulation and test generation / by Kwang-Ting Cheng and Vishwani D. Agrawal
出版・頒布事項 Boston : Kluwer Academic Publishers , c1989
形態事項 xii, 148 p. : ill. ; 25 cm
巻号情報
ISBN 0792390253
書誌構造リンク The Kluwer international series in engineering and computer science <BB00951747> SECS 73 . VLSI, computer architecture and digital signal processing//a
注記 At head of title: AT & T
注記 Bibliography: p. [113]-143
注記 Includes index
学情ID BA07295788
本文言語コード 英語
著者標目リンク *Cheng, Kwang-Ting <AU00736785>
著者標目リンク Agrawal, Vishwani D., 1943- <AU00736301>
分類標目 LCC:TK7874
分類標目 DC20:621.39/5
件名標目等 Integrated circuits -- Very large scale integration -- Design and construction -- Data processing
件名標目等 Computer-aided design
件名標目等 Integrated circuits -- Very large scale integration -- Testing
件名標目等 Integrated circuits -- Very large scale integration -- Computer simulation
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