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Secondary ion mass spectrometry : SIMS IV : proceedings of the fourth international conference, Osaka, Japan, November 13-19, 1983

editors, A. Benninghoven ... [et al.] ; : U.S., : GW. -- Springer Verlag, 1984. -- (Springer series in chemical physics ; v. 36). <BB00414255>
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Secondary ion mass spectrometry : SIMS IV : proceedings of the fourth international conference, Osaka, Japan, November 13-19, 1983

editors, A. Benninghoven ... [et al.] ; : U.S., : GW. -- Springer Verlag, 1984. -- (Springer series in chemical physics ; v. 36). <BB00414255>
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No. 巻号 所蔵館 配置場所 資料ID 請求記号 状態 返却予定日 予約 WEB書棚
0001 : GW 本館 本館：B2南_洋図書 010464611 /431/Sp8s/36 0件
No. 0001
巻号 : GW
所蔵館 本館
配置場所 本館：B2南_洋図書
資料ID 010464611
請求記号 /431/Sp8s/36
状態
返却予定日
予約 0件
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書誌詳細

標題および責任表示 Secondary ion mass spectrometry : SIMS IV : proceedings of the fourth international conference, Osaka, Japan, November 13-19, 1983 / editors, A. Benninghoven ... [et al.]
出版・頒布事項 Berlin ; New York : Springer Verlag , 1984
形態事項 xv, 503 p. : ill. ; 24 cm
巻号情報
巻次等 : U.S.
ISBN 038713316X
巻号情報
巻次等 : GW
ISBN 354013316X
書誌構造リンク Springer series in chemical physics <BB00780753> v. 36//a
注記 "Fourth International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry]"--Pref
注記 Includes bibliographical references and index
学情ID BA06696320
本文言語コード 英語
著者標目リンク Benninghoven, A. <AU00825950>
著者標目リンク International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry <AU00825949> (4th : 1983 : Osaka, Japan)
分類標目 LCC:QD96.S43
分類標目 DC19:543/.0873
件名標目等 Secondary ion mass spectrometry -- Congresses
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