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Electron microfractography : a symposium presented at the seventy-first annual meeting, American Society for Testing and Materials

American Society for Testing and Materials, 1969. -- (ASTM special technical publication ; 453). <BB00423789>
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Electron microfractography : a symposium presented at the seventy-first annual meeting, American Society for Testing and Materials

American Society for Testing and Materials, 1969. -- (ASTM special technical publication ; 453). <BB00423789>
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所蔵一覧 1件～2件（全2件）

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No. 巻号 所蔵館 配置場所 資料ID 請求記号 状態 返却予定日 予約 WEB書棚
0001 本館 本館：B2南_洋図書 010182825 /501.5/A44E 0件
0002 日野館 日野：一般書架(洋書) 201053311 /501.55/A44 0件
No. 0001
巻号
所蔵館 本館
配置場所 本館：B2南_洋図書
資料ID 010182825
請求記号 /501.5/A44E
状態
返却予定日
予約 0件
WEB書棚
No. 0002
巻号
所蔵館 日野館
配置場所 日野：一般書架(洋書)
資料ID 201053311
請求記号 /501.55/A44
状態
返却予定日
予約 0件
WEB書棚
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書誌詳細

標題および責任表示 Electron microfractography : a symposium presented at the seventy-first annual meeting, American Society for Testing and Materials
出版・頒布事項 Philadelphia : American Society for Testing and Materials , [1969]
形態事項 v, 235 p. : ill. ; 24 cm
巻号情報
ISBN 0803100132
書誌構造リンク ASTM special technical publication <BB00814831> 453//a
注記 "Sponsored by Subcommittee II on Fractography of ASTM Committee E-24 on Fracture Testing of Metals."
注記 Includes bibliographies
学情ID BA02975967
本文言語コード 英語
著者標目リンク American Society for Testing and Materials. Subcommittee II on Fractography <AU00709681>
分類標目 LCC:TA460
分類標目 DC:620.1/6/6
件名標目等 Fractography -- Congresses
件名標目等 Electron microscope -- Congresses
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