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American Society for Testing and Materials, 1971. -- (ASTM special technical publication ; 493). <BB02127077>

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American Society for Testing and Materials, 1971. -- (ASTM special technical publication ; 493). <BB02127077>

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No.	巻号	所蔵館	配置場所	資料ID	請求記号	状態	返却予定日	予約	WEB書棚
0001		本館	本館：B2南_洋図書	011873340	/549.513/A44			0件

標題および責任表示	Applications of electron microfractography to materials research : a symposium presented at the seventy-third annual meeting, American Society for Testing and Materials, Toronto, Ont., Canada, 21-26 June 1970
出版・頒布事項	Philadelphia : American Society for Testing and Materials , c1971
形態事項	96 p. : ill. ; 23 cm
書誌構造リンク	ASTM special technical publication <BB00814831> 493//a
注記	Sponsored by ASTM Subcommittee II on Fractography and Associated Microstructures of ASTM Committee E-24 on Fracture Testing of Metals
注記	Includes bibliographical references
学情ID	BA02962433
本文言語コード	英語
著者標目リンク	*Symposium on Applications of Electron Microfractography to Materials Research <> (1970 : Toronto)
著者標目リンク	American Society for Testing and Materials. Subcommittee II on Fractography <>
分類標目	LCC:TA460
分類標目	DC:620.1/6/6028
件名標目等	Fractography -- Congresses
件名標目等	Electron microscope -- Congresses