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Secondary ion mass spectrometry : SIMS V : proceedings of the fifth international conference, Washington, DC, September 30-October 4, 1985

editors, A. Benninghoven ... [et al.] ; : gw. -- Springer-Verlag, 1986. -- (Springer series in chemical physics ; 44). <BB00414254>
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No. 巻号 所蔵館 配置場所 資料ID 請求記号 状態 返却予定日 予約 WEB書棚
0001 : gw 本館 本館:B2南_洋図書 010464620 /431/Sp8s/44 0件
No. 0001
巻号 : gw
所蔵館 本館
配置場所 本館:B2南_洋図書
資料ID 010464620
請求記号 /431/Sp8s/44
状態
返却予定日
予約 0件
WEB書棚

書誌詳細

標題および責任表示 Secondary ion mass spectrometry : SIMS V : proceedings of the fifth international conference, Washington, DC, September 30-October 4, 1985 / editors, A. Benninghoven ... [et al.]
出版・頒布事項 Berlin ; Tokyo : Springer-Verlag , c1986
形態事項 xxi, 561 p. : ill. ; 24 cm
巻号情報
巻次等 : gw
ISBN 3540162631
巻号情報
ISBN 0387162631
書誌構造リンク Springer series in chemical physics <BB00780753> 44//a
注記 Includes bibliographies and index
学情ID BA00846599
本文言語コード 英語
著者標目リンク *International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry <AU00825949> (5th : 1985 : Washington, D.C.)
著者標目リンク Benninghoven, A. <AU00825950>
分類標目 LCC:QD96.S43
分類標目 DC19:539/.6/028
件名標目等 Secondary ion mass spectrometry -- Congresses