東京都立大学図書館

IEEE design & test of computers

IEEE Computer Society [and] the Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. -- (南大沢:本館). -- Vol. 1, no. 1 (Feb. 1984)-v. 29, no. 6 (Nov./Dec. 2012). -- IEEE Computer Society, 1984. <SB00013007>
登録タグ:
登録されているタグはありません
書誌URL:

一括所蔵一覧 1件~1件(全1件)

No. 所蔵館 配置場所 配置場所2 請求記号 巻号 年月次 備考
0001 本館 本館:B1北_洋雑誌 P/548/D64 1-19 1984-2002
No. 0001
所蔵館 本館
配置場所 本館:B1北_洋雑誌
配置場所2
請求記号 P/548/D64
巻号 1-19
年月次 1984-2002
備考

書誌詳細

標題および責任表示 IEEE design & test of computers / IEEE Computer Society [and] the Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc
版事項 (南大沢:本館)
巻次・年月次 Vol. 1, no. 1 (Feb. 1984)-v. 29, no. 6 (Nov./Dec. 2012)
出版・頒布事項 [Los Alamitos, Calif.] : IEEE Computer Society , c[1984]-2012
形態事項 v. : ill. ; 28 cm
その他の標題 略タイトル(雑誌書誌レコード):IEEE des. test comput (Print)
その他の標題 キータイトル(雑誌書誌レコード):IEEE design & test of computers (Print)
その他の標題 異なりアクセスタイトル:IEEE design and test of computers
その他の標題 異なりアクセスタイトル:Design & test of computers
その他の標題 異なりアクセスタイトル:Design and test of computers
その他の標題 欄外タイトル:IEEE design & test
その他の標題 異なりアクセスタイトル:Institute of Electrical and Electronics Engineers design and test of computers
注記 Title from cover
注記 Vol. 1, no. 1 also called premiere issue
注記 Issued also in microfiche
注記 Quarterly, 1984; bimonthly, 1985-
注記 Place of publication varies: New York, N.Y.
学情ID AA10630714
本文言語コード 英語
刊行頻度コード 隔月刊
ISSN 07407475
書誌変遷リンク 継続後誌 :IEEE design & test / IEEE <SB00063343>
著者標目リンク IEEE Computer Society <AU00273279>
著者標目リンク Institute of Electrical and Electronics Engineers <AU00192180>
件名標目等 Computer engineering -- Periodicals
件名標目等 Electronic digital computers -- Testing -- Periodicals