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物質・材料研究のための透過電子顕微鏡

木本浩司 [ほか] 著. -- 講談社, 2020. <BB02380652>
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物質・材料研究のための透過電子顕微鏡

木本浩司 [ほか] 著. -- 講談社, 2020. <BB02380652>
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所蔵一覧 1件～2件（全2件）

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No. 巻号 所蔵館 配置場所 資料ID 請求記号 状態 返却予定日 予約 WEB書棚
0001 本館 本館：３Ｆ一般書架 10005548350 /549.9/Ki37b/2020 0件
0002 日野館 日野：一般書架 20002005528 /549.97/Ki 0件
No. 0001
巻号
所蔵館 本館
配置場所 本館：３Ｆ一般書架
資料ID 10005548350
請求記号 /549.9/Ki37b/2020
状態
返却予定日
予約 0件
WEB書棚
No. 0002
巻号
所蔵館 日野館
配置場所 日野：一般書架
資料ID 20002005528
請求記号 /549.97/Ki
状態
返却予定日
予約 0件
WEB書棚
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書誌詳細

標題および責任表示 物質・材料研究のための透過電子顕微鏡 / 木本浩司 [ほか] 著
ブッシツ ザイリョウ ケンキュウ ノ タメ ノ トウカ デンシ ケンビキョウ
出版・頒布事項 東京 : 講談社 , 2020.7
形態事項 x, 389p : 挿図 ; 21cm
巻号情報
ISBN 9784065203866
その他の標題 標題紙タイトル:Transmission Electron Microscope for Materials Research
その他の標題 異なりアクセスタイトル:透過電子顕微鏡 : 物質・材料研究のための
トウカ デンシ ケンビキョウ : ブッシツ・ザイリョウ ケンキュウ ノ タメ ノ
その他の標題 異なりアクセスタイトル:物質材料研究のための透過電子顕微鏡
ブッシツ ザイリョウ ケンキュウ ノ タメ ノ トウカ デンシ ケンビキョウ
注記 結晶構造分析・元素分析・化学結合状態解析などを原子レベルで行うことができる透過電子顕微鏡法(TEM)。電子回折法、走査透過電子顕微鏡法、電子エネルギー損失分光法等、TEMのさまざまな計測手法を詳しく解説する。
注記 その他の著者: 三石和貴, 三留正則, 原徹, 長井拓郎
注記 編集: 講談社サイエンティフィク
注記 引用文献、参考書・参考文献: 章末
学情ID BC01556588
本文言語コード 日本語
著者標目リンク 木本, 浩司
キモト, コウジ <>
著者標目リンク 三石, 和貴
ミツイシ, カズタカ <>
著者標目リンク 三留, 正則
ミトメ, マサノリ <>
著者標目リンク 原, 徹
ハラ, トオル <>
著者標目リンク 長井, 拓郎
ナガイ, タクロウ <>
著者標目リンク 講談社サイエンティフィク||コウダンシャ サイエンティフィク <AU00067043>
分類標目 電子工学 NDC8:549.97
分類標目 電子工学 NDC9:549.97
分類標目 電子工学 NDC10:549.97
件名標目等 電子顕微鏡||デンシケンビキョウ
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